IEC 60825-1-2-12 雷射測試設備 – 金普高精度系統，配備 Centuari 功率計、光束分析儀和能量探頭，用於精確測量雷射的性能和安全性

IEC 60825-1-2-12 雷射測試設備 – 金寶BGS-USB3-SP932U光束分析儀，用於2D/3D光束輪廓可視化、能量分佈和質心位置測量

IEC 60825-1-2-12 雷射測試設備 – Centuari 真有效值功率計頭，具有 10000 Hz 記錄頻率和雙功能功率/能量測量，用於高精度分析

IEC 60825-1-2-12 雷射測試設備 – 金普電動線性旋轉升降台和精密光學元件，用於光束對準和高精度雷射切割、雕刻、打標測試

IEC 60825-1-2-12 雷射測試設備 – 金普高精度完整系統，配備 Centuari 功率計、光束分析儀、能量探頭和電動平台，用於雷射切割、雕刻、打標性能及安全驗證

IEC 60825-1-2-12 雷射測試設備 – 金普Centuari功率計和PE10-C/PE25-C能量探頭，用於測量雷射的功率、能量和光譜響應，以進行雷射安全和性能測試

IEC 60825-1-2-12 雷射測試設備 – 金普BGS-USB3-SP932U光束分析儀，可執行2D/3D光束輪廓、能量分佈和質心分析，適用於高精度雷射應用

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高精度雷射測試設備 – IEC 60825-1-2-12 光束輪廓分析及功率測量系統

雷射測試設備 – 符合 IEC 60825-1-2-12 標準的高精度系統，配備 Centuari 功率計、光束分析儀、能量探頭、積分球和電動平台，用於精確測量雷射切割、雕刻和打標的性能和安全性。

符合標準IEC 60825-1-2-12 – 用於安全性和性能驗證的雷射測試設備
功率測量Centuari 真有效值功率計頭，具備 10000 Hz 記錄頻率和雙功能光功率/能量模組
光束輪廓分析BGS-USB3-SP932U 雷射光束分析儀，用於二維/三維可視化、質心動力學和光束直徑分析
能量探測器PE10-C / PE25-C 型快速高靈敏度探頭，測量範圍為 0.15–12 μm，響應頻率高達 25 kHz。
光機械：電動線性/旋轉/升降台、積分球、衰減器和用於全光束控制的微型光譜儀
MOQ：1
交貨期：3週

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雷射測試設備說明

雷射測試設備 – IEC 60825-1-2-12 高精度雷射切割雕刻打標系統

此雷射測試設備是由金普公司開發的先進精密測量系統，旨在支援高精度雷射切割、雕刻和打標應用，並完全符合IEC 60825-1-2-12安全標準。此雷射測試設備整合了先進的光學和計量組件，包括Centuari真有效值功率計頭（10000 Hz記錄頻率，功率/能量雙功能測量）、BGS-USB3-SP932U雷射光束分析儀（2048×1536像素，波長範圍350–1100 nm）以及快速能量探頭（10-C /PE PE25-C），用於全面表徵光束輪廓、功率、能量和光譜特性。

金寶工廠優勢

金普是一家擁有ISO9001和ISO 17025雙重認證的製造商，在雷射安全和精密測試設備領域擁有超過15年的經驗。自2022年以來，我們已向中國、歐洲和亞洲的製造商和實驗室交付了多套符合IEC 60825-1-2-12標準的雷射測試系統。所有設備均包含ISO 17025校準證書、現場安裝指導、一年保固（耗材除外）以及東莞工廠提供的48小時快速響應支援。

專業施工與技術精準性

主要功能包括：

功率計：Centuari 模組，支援 10000 Hz 記錄頻率、RS232/GPIB/乙太網路接口，並具備功率/能量密度、填充因子、基線歸一化等功能。
光束分析儀：BGS-USB3-SP932U，像素尺寸為 3.45 μm，波長範圍為 350–1100 nm，用於測量二維/三維光束輪廓、質心動態、橢圓率和光束直徑。
能量探針：PE10-C（2 μJ–10 mJ，最大頻率 25 kHz）和 PE25-C（8 μJ–10 J，最大頻率 10 kHz），反應範圍 0.15–12 μm，損傷閾值高。
光機系統：電動線性/旋轉/升降平台、手動旋轉平台、積分球（IS6-D-VIS）和用於光束控制的衰減器（SAM-BB-V1）
光譜儀：SGM2020-VNIR 微型光譜儀（350–1020 nm，分辨率 1.9 nm），用於雷射/LED光源的光譜測量
安全性和整合性：符合 IEC 60825-1-2-12 標準，支援大發散角和高雷射損傷閾值 (LIDT) 組件

這些要素確保了雷射應用中的高精度和安全性。

技術參數：

功率、能量和光束測量儀器

序號	產品型號	技術指標
1	Centuari 功率計頭	真絕對RMS值，10000 Hz錄音，雙功能功率/能量模組
2	PD300-UV功率計探頭	波長範圍：200-1100 nm，孔徑：10 mm，功率：20 pW–300 mW
3	PD300-IR 功率計探頭	波長範圍 700-1800 奈米，孔徑 5 毫米，功率 5 納瓦至 300 毫瓦
4	3A功率計探頭	粒徑0.19-20 μm，孔徑9.5 mm，功率10 μW-3 W
5	50(150)A-BB-26-V1 功率計探頭	0.19-20 μm，26 mm 孔徑，40 mW–150 mW
6	PE10-C 快速能量計探頭	粒徑 0.15–12 μm，直徑 12 mm，能量 2 μJ–10 mJ，最大頻率 25 kHz
7	PE25-C 快速能量計探頭	粒徑 0.15–3.0 μm，直徑 24 mm，能量 8 μJ–10 J，最大頻率 10 kHz
8	IS6-D-VIS-V1 積分球	0.4–1.1 μm，20 μW–30 W，±60°發散角
9	FPS-1快速光電探測器探針	波長範圍 193-1100 nm，上升時間 1.5 ns，頻寬 233 MHz
10	BGS-USB3-SP932U 雷射光束分析儀	波長範圍：350-1100 nm，像素尺寸：2048×1536，光束尺寸：34.5 μm–5.3 mm

光機附件

序號	產品型號	技術指標
1	RAOB20-1 導軌	長度2000毫米
2-33	舞台、支架、鏡頭、感應器和控制器的完整清單（按原始規格）	請參閱詳細的產品手冊。