電子機器用温湿度試験槽 – IEC 60068 電子部品試験

プリント基板アセンブリおよび電子モジュール

プリント基板アセンブリ、制御基板、電子モジュールは、機能検査、設計検証、またはさらなる電気的試験の前に、指定された温度および湿度環境下で調整することができる。

センサー、コネクタ、端子

電子機器用温度湿度試験チャンバーは、性能評価を行う前に、センサー、コネクタ、端子を規定の温度および湿度条件に曝すための再現性のある環境を提供する。

光電子部品および半導体関連部品

これらの部品を特定の気候条件下で試験する際には、チャンバーの容積、試験片の寸法、荷重の配置、および放熱について検討する必要がある。

小型自動車用電子部品

自動車用センサー、コネクタ、および小型の制御関連部品は、該当する試験手順に従って、高温、低温、または高湿度の条件下にさらされる可能性があります。

プロフィールを設定する

オペレーターはタッチスクリーンコントローラーを通して、必要なチャンバー条件を入力する。

モニター条件

温度・湿度センサーが試験空間の環境を監視する。

自動調整

コントローラーは、必要に応じて暖房、冷房、加湿、除湿を調整します。

空調された空気を循環させる

内部の空気の流れによって、調整された空気が作業空間全体に分配されます。

3つの温度範囲構成

電子機器用温度湿度試験槽は、-20℃、-40℃、-70℃の低温構成が用意されており、それぞれ+150℃までの温度範囲に対応しています。

100L～1000Lのチャンバー容量

電子部品用の温湿度試験槽として、本シリーズは試験片の寸法、試験数量、内部負荷配置に応じて選択できます。

プログラム可能なタッチスクリーン制御

カラー液晶タッチスクリーンにより、オペレーターは繰り返し環境試験を行う際の試験室の状態を設定および監視することができる。

観察窓と照明

観察窓と内部照明により、作業員は試験室のドアを定期的に開けることなく、検体や試験スペースを確認することができる。

テストデータと接続性

公開されている構成情報には、LANまたはUSB接続機能に加え、グラフィカルデータ出力機能およびExcel形式のデータ出力機能が含まれています。

独立した温度保護機能

独立した温度制限アラームは、チャンバー温度が設定された保護設定値を超えた場合に、追加の保護機能を提供します。

テストA：寒冷

特定の低温条件下で、部品、機器、その他の物品を評価するために使用されます。

テストB：乾熱

特定の高温条件下での環境試験に使用されます。

テストDb：湿熱、周期的

高湿度と周期的な温度変化が組み合わさった状況、および試料表面に結露が発生する可能性のある状況を対象としています。

テストキャブ：湿熱、定常状態

一定温度下での高湿度環境への曝露において、結露が発生しないことを規定の試験期間にわたって保証します。

電子機器研究開発研究所

研究開発ラボでは、電子機器用温度湿度試験チャンバーを使用して、設計や機能評価の前に、プロトタイプ、プリント基板アセンブリ、モジュール、コンポーネントを気候条件に曝露させることができます。

部品信頼性研究所

電子部品用の温湿度チャンバーは、コネクタ、センサー、プリント基板、モジュールなどを、規定された実験室条件下で制御された暴露試験に供することを可能にする。

生産品質管理

電子機器メーカーは、製品検証または社内品質管理手順の中に、温度および湿度制御を組み込むことができる。

車載エレクトロニクスのテスト

電子機器用環境試験チャンバーは、自動車用センサー、コネクタ、小型制御関連部品の気候試験に対応できます。温度範囲、負荷、および試験片への電力供給による熱負荷は、個々のプロジェクトに合わせて検討する必要があります。

第三者試験機関

電子機器用温湿度試験チャンバーは、容量と温度を複数設定できるため、独立した研究機関は、試験片の種類や計画されている環境試験の範囲に応じて機器を選択することができます。